Materialdatenbank
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Simulation von Zufallsexperimenten mit der TI-Nspire™-CX-CAS-Technologie
Dieser Beitrag hat zum Ziel, die Simulationen von ausgewählten Zufallsexperimenten mit Hilfe der TI-Nspire™-CX-CAS-Technologie zu erklären und zu systematisieren.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Wolfgang Häfner
Fach: Mathematics
Modéliser une situation par un schéma de Bernoulli, par une loi binomiale.
Utiliser l’expression de la loi binomiale pour résoudre un problème de seuil, de comparaison, d’optimisation...
Verlag: T3 France
Herausgeber: T3 France
Autor: Robert Cabane, Laurent Didier
Fach: Mathematics, Computer Science